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厦门科王电子有限公司

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日本三丰低测力测高仪  
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产品: 浏览次数:8日本三丰低测力测高仪   
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-12-13 09:18
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详细信息

日本三丰低测力测高仪特点:

1.适用于易受测力影响的工件的厚度·高度的测量

2.测力0.01N,适于测量易变形工件和高精度零件。

3.对于用0.01N测量时结果不稳定工件,推荐使用0.15N1N(工厂选配)

4.马达驱动测头,接触到工件时停止。在一定测力下可测量zui大值,zui小值和溢出值。

5.具有显示量0.01μm的高分辨率,测量范围可达到50mm

6.测杆采用不易膨胀材料,测量工作台采用陶瓷,不容易产生由温度引起的变形现象。此外,不容易生锈,维护简单。

测量实例

1.橡胶·塑料

如果工件较软,为了避免测头压入工件表面,可将标准测头更换为大半径的硬质合金球。

2.玻璃

测量时容易被划伤表面的工件,建议选择测力比较小的类型。

3.薄膜/半导体

测量工件容易翘起不能正确测量的情况下,建议选择测力比较大的类型或者追加一个平衡块。

4.薄板金

因为测力较小,可以尽力抑制工件的变形。

5.媒体光盘

测量工件的材料容易划伤的情况下,建议选择测力比较小的类型。

6.医疗·药品

如果工件较软,为了避免测头压入工件表面,可将标准测头更换为大半径的硬质合金球。

7.电子零件

更多:日本三丰 

http://www.shuangliyq.com/ParentList-2308341.html

https://www.chem17.com/st344704/product_36529038.html 

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